2008年1月21日、DFTツールを手掛ける日本のEDAベンダ、株式会社システム・ジェイディーは、新製品のテストパターン変換ツール「STILAccess」のリリースを発表した。製品パンフレット

KARMA-EDA2008-01-22

システム・ジェイディーによると新たに開発した「STILAccess」は、テストパターン記述言語「STIL」をベースとした、テストパターンの変換・加工作業を効率化するためのツールで、主に下記２種類のニーズに対応するソリューションとして位置付けられている。

　１．各社ATPGツール等のSTILから独自のテストパターン記述言語への変換
　２．各テスター(半導体検査装置)のテストプログラムに合わせたSTILの変換

「STILAccess」とユーザーの変換プログラムを組み合わせて用いる事により、手作業で進められているテストパターン変換作業の大部分を自動化することが可能で、特定のテスターに限らずあらゆるテスターに対応したテストパターン変換を実現できるという。

尚、システム・ジェイディーは、「STILAccess」の他に「TestPowerOptimizer」というDFTツールを提供中。このツールは、キャプチャ時の消費電力の低減を狙ったテストパターン変換ツールで、IRドロップの影響による誤テストを回避し、チップの歩留まりを向上できる。

※画像は「STILAccess」の処理イメージ

※「STILAccess」および「TestPowerOptimizer」に関する詳細は、株式会社システム・ジェイディーにお問い合わせ下さい。
※記事提供：EDA Express