2008年10月24日、DFT専用テスタ及びDFTツールを手掛ける米TESEDA社は、同社ソリューションとメンターの故障診断ツールのインテグレーションを発表した。

プレスリリース：http://www.teseda.com/press/102408.shtml（英文）

TESEDAによると今回発表した連携は、同社のDFT専用テスタ「Vシリーズ」のメモリにメンターの故障診断ツール「YieldAssist」を接続し、スキャンロジック上の故障などデータ集約型の故障を「YieldAssist」で解析できるようになるというもので、メンターのATPGツールからテストパターンをTESEDAのDFTテスタに流し、その結果を「YieldAssist」で解析し故障候補をTESEDAのフィジカルマネジメントツールで確認するというイタレーションフローによって、レイアウト上の早期故障検出を実現する。

※TESEDA社
http://www.teseda.com

※メンター・グラフィックス・ジャパン株式会社
http://www.mentorg.co.jp

※記事提供：EDA Express