プレスリリース：http://www.teseda.com/press/102408.shtml（英文）TESEDAによると今回発表した連携は、同社のDFT専用テスタ「Vシリーズ」のメモリにメンターの故障診断ツール「YieldAssist」を接続し、スキャンロジック上の故障などデータ集約型の故障を「…