カナダSolido社のCTOにプロセスばらつき研究のエキスパート「Patrick Drennan」氏が就任

2007年4月25日、アナログ/ミックスドシグナル、カスタムICおよびメモリICをターゲットに、トランジスタレベルの統計的設計/検証ソリューションを手掛けるカナダのSolido Design Automation社は、工学博士「Patrick Drennan」氏が同社のCTOに就任したことを発表した。プレスリリース

発表によるとDrennan氏は、元フリースケール社のDistinguished Member of the Technical Staffであり、電子工学コミュニティにおいては、半導体プロセステクノロジのばらつきに関する研究でよく知られた存在との事で以下のような経歴を持つ。

■統計的キャラクタライゼーションに対するBPV手法の開発者の一人として、ローカルなばらつきモデルを開発。2002年IEEE Custom Integrated Circuit Conferenceにて、Best Regular Paper賞を受賞。
BPV:Backwards Propagation of Variance

■STIおよびWPEの設計に対する影響を説明し、WPEがグレーテッド形チャネルMOSFETを生成する事を実証。予測不能な現象が回路設計に及ぼす影響を示し、2006年IEEE Custom Integrated Circuit Conferenceにて、Best Invited Paper賞を受賞

Solidoは、Drennan氏のシリコンの統計的な技術の知識と、同社Chief Scientific Officer McConaghy氏の統計的アルゴリズムの開発経験が結びつく事で、同社の研究開発チームの専門能力はより完成されたものになり、統計的データモデル/統計的ツールセットの両分野でワールドクラスのソリューションを提供できるとしている。

※Solido社の製品に関する詳細は、日本代理店アイシス・コーポレーションにお問い合わせ下さい。

※記事提供：EDA Express