アンソフト、パッケージ/基板向け解析ツール「SIwave」をバージョンアップ〜IRドロップ解析と近傍電磁界表示機能を追加

2007年10月22日、電磁界解析ツール大手の米アンソフトは、パッケージ/基板向け解析ツール「SIwave」バージョン3.5のリリースを発表した。プレスリリース

「SIwave」は、、高速プリント基板やICパッケージ向けのフル・ウエーブ電磁界シミュレータとして提供されている製品でICパッケージのシグナルインテグリティ、パワーインテグリティ、電磁妨害（EMI）解析用に最適化されている。

アンソフトによると新たしい「SIwave v3.5」には、新機能としてIRドロップ解析と近傍電磁界表示機能が追加され、複雑な電源・グランドのDC電圧降下／電流密度（ベクトル）の解析や従来からの遠方電磁界解析機能と合わせた仮想EMI試験が可能になったほか、パラメータ抽出機能についてもCausality（因果律）/Passivity（受動性）に則した解析が可能となり、メモリーI/FのSSNシミュレーションなどの過渡解析に最適なモデルを抽出できるようになった。

また、その他にも64bits OSへの完全対応、近傍|E|、|H|場のビジュアル化、3D電磁界解析ツール（HFSS）との連携改善など、今回リリースされた「SIwave v3.5」ではメジャーバージョンアップ並の機能追加が行われているという。

※「SIwave v3.5」に関する詳細は、アンソフト・ジャパン株式会社にお問い合わせ下さい。
※写真上は、BGAパッケージのDC解析のGUI画面（VDDのソルダーボール―ワイヤーボンド間の電流ベクトル）。　写真下は、近傍電磁界解析のGUI画面（1GHzの32ビット同時スイッチング信号からの放射（近傍磁界）を解析）
※記事提供：EDA Express