2007年4月16日、今回で10周年となる、DATE（Design Automation and Test in Europe）2007がフランスのニースで開幕した。

DATEは、EDA関連のヨーロッパ最大のカンファレンスで、DACやICCAD、日本のEDSFairの姉妹イベントと位置付けられている。これまでの9年間は、ミュンヘンまたはパリのいずれかで開催されていたが、今回初めて開催地をニースに移した。

20日までの計5日に渡って開催される今年のDATE2007では、計11のチュートリアル、計78のテクニカル・カンファレンス、計12のワークショップ、計3つのパネル・セッション（Executive Sessions）が行われる予定で、キーノートスピーチは、東芝の半導体研究開発センターの所長でありIEEE Fellowでもある「古山　透」氏と、米コーウェア社の社長兼CEOの「Alan Naumann」氏がそれぞれ下記タイトルで講演する。

「CHALLENGES OF DIGITAL CONSUMER AND MOBILE SoC’s: MORE MOORE POSSIBLE?」古山　透氏

「WAS DARWIN WRONG? HAS DESIGN EVOLUTION STOPPED AT THE RTL LEVEL … OR WILL SOFTWARE AND CUSTOM PROCESSORS (OR SYSTEM-LEVEL DESIGN) EXTEND MOORE’S LAW? 」Alan Naumann氏

ヨーロッパでは、システムレベル設計関連の研究が大学や各研究機関等で積極的に進められており、日本同様、大手電機メーカーを中心に実設計への適用も活発に行われている。そういった背景を映すように、DATEではシステムレベル設計がメインテーマとして掲げられており、今年もカンファレンス全体を通じて関連するセッションが非常に多い。

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