2007-04-15から1日間の記事一覧

2007年4月12日、ウェーハ検査装置の大手米KLA-Tencor社と、ばらつき解析を中心としたDFMツールを手掛ける、米Clear Shape Technologies社は、DFMソリューションにおける両社のコラボレーションを発表した。プレスリリース(英文)

発表によると両社のコラボレーションは、高精度な45nm以下のマスク検査を実現し、イールドの改善を狙うもので、先日発表されたばかりのKLAの新製品「TeraScanHR」とClear Shapeの「InShape」および「OutPerform」が用いられる。※関連情報: ★米KLA-Tencor、4…