パシフィコ横浜で開催中のElectronic Design and Solution Fair 2011のレポート。

初日の1月27日、会場内の特設ステージで「システムLSI設計の今後-22nm時代に向けて-」と題したパネル・ディスカッションが行われた。

同セッションでは、22nm時代に向けた設計課題として、ばらつき、低電力、信頼性の3つを取り上げ、3人のパネリストがそれぞれにその重要性と対策を語った。

ここでは、ばらつきの重要性と対策に関する京都大学佐藤教授の話を紹介する。

http://www.eda-express.com/2011/01/edsf2011lsi22nm.html

Interface (インターフェース) 2011年 03月号 [雑誌]