日立がケイデンスの「Encounter Test」を活用してテストデータを300分の1に圧縮

2008年10月30日、ケイデンスは、日立製作所による同社製品「Encounter Test」の成功事例を発表した。

プレスリリース：http://www.cadence.co.jp/news/H20-10-30.html

ケイデンスの発表によると、日立の情報通信部門のハード設計部隊ではケイデンスのDFTツール「Encounter Test」を用いてパターン・フォルト・モデリング、テスト・パターン生成、圧縮、故障解析等を実施。日立のテスト・メソドロジと組み合わせる事でテスト・ベクタを300分の１に圧縮する事に成功し、複雑な高性能LSI設計のテスト品質の向上とテストコストの削減を実現した。

ちなみに、今回ケイデンスのソリューションと日立のテスト・メソドロジが実現したテストデータの圧縮レベルは、2011年に目標とされる圧縮の要求レベルに相当するという。（2007年発表　ITRS調査データ）

※日本ケイデンス・デザイン・システムズ社
http://www.cadence.co.jp

※記事提供：EDA Express